ASTM F 1845-1997 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-20 08:07:49 浏览:8947 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforTraceMetallicImpuritiesinElectronicGradeAluminum-Copper,Aluminum-Silicon,andAluminum-Copper-SiliconAlloysbyHigh-Mass-ReductionGlowDischargeMassSpectrometer
【原文标准名称】:用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1845-1997
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铝;电子学;铝铜硅合金;铝硅合金;微量金属杂质;铝铜合金;辉光放电质谱仪;纯度分析;喷镀目标
【英文主题词】:aluminum-copperalloys;aluminum-copper-siliconalloys;aluminum-siliconalloys;glowdishcargemassspectrometer(gdms);purityanalysis;sputteringtarget;tracemetallicimpurities;electronics;aluminum
【摘要】:
【中国标准分类号】:L90
【国际标准分类号】:29_050
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语

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